多功能膜厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统,结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量，除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量,测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单，只需要将放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。是一款价优，并功能强大的仪器。

邓生